IP30與IP40試驗(yàn)探棒的區(qū)別與應(yīng)用
IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試主要考核各類設(shè)備外殼是否具備防塵和防水進(jìn)入的能力，考核殼體的密封性能是否完好。
IP防護(hù)等級(jí)測(cè)試主要依據(jù)GB/T4208-2008和IEC60529：2001兩個(gè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)，在國(guó)內(nèi)使用的設(shè)備通常采用GB/T4208-2008標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行試驗(yàn)
位數(shù)字防塵試驗(yàn)：
防塵等級(jí)(e.g. IP5X-防塵等級(jí)5)
0：完全無防塵保護(hù)。
1：IP1X試驗(yàn)探棒 可保護(hù)避免直徑大于50㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑50㎜圓球狀測(cè)試棒不得完全掉入外殼內(nèi))。
2：IP2X試驗(yàn)探棒可保護(hù)避免直徑大于12㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑12.5㎜圓球狀測(cè)試棒不得完全掉入外殼內(nèi))。
3：IP3X試驗(yàn)探棒可保護(hù)避免直徑大于2.5㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑2.5㎜測(cè)試棒不得整個(gè)掉入外殼內(nèi))。
4：IP4X試驗(yàn)探棒可保護(hù)避免直徑大于1㎜之異物掉入設(shè)備內(nèi)(直徑1㎜測(cè)試棒不得整個(gè)掉入外殼內(nèi))。
5：砂塵試驗(yàn)箱 部分防塵(有部分防塵作用，但不得因落入之灰塵影響正常功能運(yùn)作或降低產(chǎn)品安全性)。
6：砂塵試驗(yàn)機(jī) 完全防塵(不得有灰塵掉入外殼內(nèi))。